[发明专利]插入损耗测试端口

说明书

本申请涉及印制线路板加工技术领域，提出一种插入损耗测试端口，设于电路板上，所述插入损耗测试端口包括：多个定位孔，多个定位孔间隔分布在电路板且围成一测试区；两个接地PAD，平行且间隔地设于测试区内，每个接地PAD均为条形且沿第一方向延伸；测试组件，设于两个接地PAD之间，测试组件包括至少一个测试PAD，测试PAD的至少部分与相邻接地PAD之间具有预设距离；其中，定位孔和测试PAD组成第一测试端口；接地PAD和测试PAD组成第二测试端口。上述插入损耗测试端口实现了进行差分插损测试及特性插损测试时常用系列探针的适配，无需购买多种规格的探针装置，节省成本。

技术领域

本申请涉及印制线路板加工技术领域，尤其涉及一种插入损耗测试端口。

背景技术

随着信息技术的发展，插入损耗(也称插损)作为衡量PCB信号损耗的一个关键参数，在PCB的制造过程中愈发受重视。插损分为两种类型：差分插损和特性插损。差分插损是指差分线的插损，由两条平行的、等长的、传输相位相差180°的传输线组成；特性插损是指单端线的插损，由单一传输线组成。

由于测试端口的设计不同，在测试过程中，需要根据实际设计选择不同的探针进行测试；而探针的价格十分昂贵，购买多种规格的探针，会增加企业的成本。

发明内容

本申请的目的在于提供一种插入损耗测试端口，以解决现有插入损耗测试端口的探针规格不兼容的技术问题。

本申请的实施例提出一种插入损耗测试端口，设于电路板上，所述插入损耗测试端口包括：

多个定位孔，多个所述定位孔间隔分布在所述电路板且围成一测试区；

两个接地PAD，平行且间隔地设于所述测试区内，每个所述接地PAD均为条形且沿第一方向延伸；

测试组件，设于两个所述接地PAD之间，所述测试组件包括至少一个测试PAD，所述测试PAD的至少部分与相邻所述接地PAD之间具有预设距离；

其中，所述定位孔和所述测试PAD组成第一测试端口；所述接地PAD和所述测试PAD组成第二测试端口。

在一实施例中，沿垂直于所述第一方向的第二方向，所述测试PAD和所述接地PAD的宽度均大于等于0.2mm。

在一实施例中，所述测试组件包括一个矩形的所述测试PAD，所述测试PAD沿所述第一方向延伸，且所述测试PAD与两个所述接地PAD之间的所述预设距离相等。

在一实施例中，所述测试组件包括两个所述测试PAD，用于适配具有预设探头间距的探针，每个所述测试PAD包括依次连接的第一测试部、连接部和第二测试部，所述第一测试部和所述第二测试部均沿所述第一方向延伸，所述连接部的延长线与所述第一方向之间有预设夹角，两个所述第二测试部之间的距离大于两个所述第一测试部之间的距离且小于所述预设探头间距，每个所述第一测试部与相邻所述接地PAD之间的距离为所述预设距离。

在一实施例中，每个所述第一测试部及第二测试部的宽度均为0.2mm，两个所述第一测试部之间的距离小于0.35mm，两个所述第二测试部之间的距离小于0.5mm。

在一实施例中，所述接地PAD和所述测试PAD的两端平齐。

在一实施例中，所述预设距离大于0.1mm。

在一实施例中，所述定位孔的数量为四个，四个所述定位孔位于所述测试区的四周且呈矩形分布。

在一实施例中，所述插入损耗测试端口还包括设于所述测试区内的信号导通PAD，所述信号导通PAD与所述测试PAD的一端间隔设置且所述信号导通PAD通过传输线电连接于所述测试PAD。