[发明专利]插入损耗测试端口在审

专利信息
申请号: 202210892409.3 申请日: 2022-07-27
公开(公告)号: CN115166375A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 胡新星;叶卓炜;马奕;彭浪 申请(专利权)人: 景旺电子科技(珠海)有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 谢蓓
地址: 519000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 插入损耗 测试 端口
【权利要求书】:

1.一种插入损耗测试端口,设于电路板上,其特征在于,所述插入损耗测试端口包括:

多个定位孔,多个所述定位孔间隔分布在所述电路板且围成一测试区;

两个接地PAD,平行且间隔地设于所述测试区内,每个所述接地PAD均为条形且沿第一方向延伸;

测试组件,设于两个所述接地PAD之间,所述测试组件包括至少一个测试PAD,所述测试PAD的至少部分与相邻所述接地PAD之间具有预设距离;

其中,所述定位孔和所述测试PAD组成第一测试端口;所述接地PAD和所述测试PAD组成第二测试端口。

2.根据权利要求1所述的插入损耗测试端口,其特征在于,沿垂直于所述第一方向的第二方向,所述测试PAD和所述接地PAD的宽度均大于等于0.2mm。

3.根据权利要求2所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述测试组件包括一个矩形的所述测试PAD,所述测试PAD沿所述第一方向延伸,且所述测试PAD与两个所述接地PAD之间的所述预设距离相等。

4.根据权利要求2所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述测试组件包括两个所述测试PAD,用于适配具有预设探头间距的探针,每个所述测试PAD包括依次连接的第一测试部、连接部和第二测试部,所述第一测试部和所述第二测试部均沿所述第一方向延伸,所述连接部的延长线与所述第一方向之间有预设夹角,两个所述第二测试部之间的距离大于两个所述第一测试部之间的距离且小于所述预设探头间距,每个所述第一测试部与相邻所述接地PAD之间的距离为所述预设距离。

5.根据权利要求4所述的插入损耗测试端口,其特征在于,每个所述第一测试部及第二测试部的宽度均为0.2mm,两个所述第一测试部之间的距离小于0.35mm,两个所述第二测试部之间的距离小于0.5mm。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述接地PAD和所述测试PAD的两端平齐。

7.根据权利要求1-5中任一项所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述预设距离大于0.1mm。

8.根据权利要求1-5中任一项所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述定位孔的数量为四个,四个所述定位孔位于所述测试区的四周且呈矩形分布。

9.根据权利要求1-5中任一项所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述插入损耗测试端口还包括设于所述测试区内的信号导通PAD,所述信号导通PAD与所述测试PAD的一端间隔设置且所述信号导通PAD通过传输线电连接于所述测试PAD。

10.根据权利要求9所述的插入损耗测试端口,其特征在于,所述插入损耗测试端口还包括多个设于所述测试区内的屏蔽孔,部分所述屏蔽孔与所述测试PAD或所述接地PAD远离所述信号导通PAD的一端间隔设置,沿所述第一方向,所述屏蔽孔与所述测试PAD或所述接地PAD远离所述信号导通PAD的一端之间的距离大于等于0.2mm;部分所述屏蔽孔设于所述接地PAD上。

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