[发明专利]强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统有效

专利信息
申请号: 202210817658.6 申请日: 2022-07-13
公开(公告)号: CN114966615B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 李焱;郭永强;李珍;董宇星;张海波;刘海波;兰太吉 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481;G01S17/66;G01S17/89
代理公司: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 代理人: 于晓庆
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统,属于光电对抗及预警探测领域,包括成像光学镜组、屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅、光学探测器和DSP图像识别处理器;屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅、光学探测器像面均与主光轴成90度;光学探测器像面中心与主光轴重合;入射光依次经成像光学镜组、屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅和光学探测器进入DSP图像识别处理器。本发明采用双舱型设计,解决了传统光学探测系统在不低于800KV/m的强电磁脉冲使用环境下因受到毁伤或者干扰而不能成像或对弱小目标无法探测的问题,实现强电磁脉冲等复杂环境下抑制背景和检测弱小目标的目的,提升了光电探测系统的使用效能。
搜索关键词: 电磁 脉冲 环境 检测 弱小 目标 双舱型 光电 探测 系统
【主权项】:
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