[发明专利]强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统

权利要求书

1.强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，包括：成像光学镜组、屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅、光学探测器和DSP图像识别处理器；所述屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅、光学探测器像面均与系统主光轴成90度设置；所述光学探测器像面中心与系统主光轴重合；入射光线依次经成像光学镜组、屏蔽光学窗口、截止波导管、截止格栅和光学探测器后进入DSP图像识别处理器；

还包括：遮光罩、光学舱和电子舱；所述光学舱和电子舱均设置在遮光罩内部，所述成像光学镜组设置在光学舱内部，所述屏蔽光学窗口设置在光学舱和电子舱的物理分界处，所述截止波导管、截止格栅、光学探测器和DSP图像识别处理器均设置在电子舱中。

2.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述遮光罩经导电氧化处理后，用黑色丙烯酸聚氨酯无光漆进行喷漆处理；所述光学舱和电子舱均采用镀镍铝性材料制作；所述光学舱和电子舱均采用模压一体式金属导电密封圈进行填充。

3.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述成像光学镜组包括沿主光轴传播方向依次设置的第一前透镜组、第二前透镜组、变倍组、补偿组、调焦组、第一反射镜组、第二反射镜组和后透镜组；所述第一前透镜组、第二前透镜组、变倍组、补偿组、调焦组均与主光轴成90度设置，所述第一反射镜组、第二反射镜组均与主光轴成45度设置；入射光线依次经第一前透镜组透过、第二前透镜组透过、变倍组折射、补偿组补偿、调焦组补偿、第一反射镜组反射、第二反射镜组反射、后透镜组二次成像、屏蔽光学窗口进入到电子舱。

4.根据权利要求3所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述第一前透镜组采用一片正透镜，材料为硅；所述第二前透镜组采用一片负透镜，材料为锗；所述变倍组采用一片负透镜，采用非球面形式，通过变倍组折射光线、改变入射像高、改变系统焦距；所述补偿组采用两片正透镜组合形式，其中一片正透镜采用非球面形式，通过补偿组补偿变倍组前后移动带来的像面移动，并进行残余像差矫正；当变倍组和补偿组相互靠近时系统视场减小，焦距增大；当变倍组和补偿组相互远离时系统视场增加，焦距减小；通过调焦组补偿系统的像面移动和对焦操作。

5.根据权利要求3所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述第一前透镜组、第二前透镜组、变倍组、补偿组、调焦组、后透镜组表面均镀有增透膜；所述第一反射镜组和第二反射镜组表面均镀有高反膜。

6.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述屏蔽光学窗口是一块镀有屏蔽金属网格栅和增透膜的窗口玻璃，当屏蔽金属网格栅厚度 t 远小于线宽 2a，且线宽2a远小于线周期 g 时，则屏蔽金属网格栅的电磁屏蔽效率S为：

式中，λ为：入射波长，g为：线周期，为：半线宽。

7.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述截止波导管呈现圆形，直径为24mm，长度L为18mm，截止频率为fc = 17.6×10⁹ / d，式中，d为截止波导管的内直径，单位cm，fc为7.33GHz，得到截止波导管的理论屏蔽为23.76dB。

8.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述截止格栅采用16目的屏蔽网格。

9.根据权利要求1所述的强电磁脉冲环境下可检测弱小目标的双舱型光电探测系统，其特征在于，所述光学探测器采集光信号，将其在给定积分条件下进行电信号的转换，输出模拟视频，再经DSP图像识别处理器实现A/D转换、信号滤波降噪、电光转换，以光纤视频信号形式输出。