[发明专利]一种基于光器件射频性能的测试方法及系统在审
| 申请号： | 202210816704.0 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115021812A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 尹正茂;李林科;吴天书;杨现文;张健 | 申请（专利权）人： | 武汉联特科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 徐俊伟 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于光通信技术领域，具体提供了一种基于光器件射频性能的测试方法及系统，其中方法包括：驱动待测光器件发光运行；利用二进制码作为信号源，根据所述信号源对所述待测光器件进行调制，注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号，根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。该方案尤其是针对高速光速光器件，不仅可以对高速待测光器件光眼图进行直接测试，从而验证其射频性能；还能进一步配合光功率性能测试，完善了光器件的全面测试，大大降低了不良占比，使得光器件焊接组装成光模块一次成型无需二次重复返工，节约大量的工时。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 器件 射频 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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