[发明专利]一种基于光器件射频性能的测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210816704.0 申请日: 2022-07-12
公开(公告)号: CN115021812A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 尹正茂;李林科;吴天书;杨现文;张健 申请(专利权)人: 武汉联特科技股份有限公司
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 徐俊伟
地址: 430000 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 器件 射频 性能 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1,驱动待测光器件发光运行;

S2,利用二进制码作为信号源,根据所述信号源对所述待测光器件进行调制,注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号,根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。

2.根据权利要求1所述的基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,所述S2具体包括:利用误码仪发射的伪随机二进制码作为高速信号源,通过时钟数据恢复,再利用激光器驱动器按照信号源对激光器进行调制。

3.根据权利要求1所述的基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,所述S2中根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能具体包括:通过光示波器查看高速信号的光眼图,根据所述光眼图判断所述待测光器件的射频性能。

4.根据权利要求3所述的基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,所述S2中判断所述待测光器件的射频性能具体包括:通过获取示波器的图像,将图像中的光眼图ER、示波器的眼图裕量及交叉点分别与对应各项指进行比较分析,若均在对应的指标浮动范围内,则判定所述待测光器件的射频性能满足要求。

5.根据权利要求1所述的基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,所述S1具体包括:通过硬件电路设计,做成测试板形式,利用测试板驱动高速器件发光。

6.根据权利要求5所述的基于光器件射频性能的测试方法,其特征在于,所述S2具体包括:

使用程控电源为射频测试板供电,误码仪提供高速信号,通过控制测试板的开关对光路进行切换,一路连接到功率计,用于测试待测光器件的光功率性能;另外一路连接到示波器,用于待测光器件的射频性能。

7.一种基于光器件射频性能的测试系统,其特征在于,所述系统用于实现如权利要求1-6任一项所述的基于光器件射频性能的测试方法,包括:

测试板,用于驱动待测光器件发光运行,并利用二进制码作为信号源,根据所述信号源对所述待测光器件进行调制,注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号;

射频性能测试模块,用于根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。

8.一种电子设备,其特征在于,包括存储器、处理器,所述处理器用于执行存储器中存储的计算机管理类程序时实现如权利要求1-6任一项所述的基于光器件射频性能的测试方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机管理类程序,所述计算机管理类程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的基于光器件射频性能的测试方法的步骤。

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