[发明专利]一种基于光器件射频性能的测试方法及系统

说明书

本发明属于光通信技术领域，具体提供了一种基于光器件射频性能的测试方法及系统，其中方法包括：驱动待测光器件发光运行；利用二进制码作为信号源，根据所述信号源对所述待测光器件进行调制，注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号，根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。该方案尤其是针对高速光速光器件，不仅可以对高速待测光器件光眼图进行直接测试，从而验证其射频性能；还能进一步配合光功率性能测试，完善了光器件的全面测试，大大降低了不良占比，使得光器件焊接组装成光模块一次成型无需二次重复返工，节约大量的工时。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，更具体地，涉及一种基于光器件射频性能的测试方法及系统。

背景技术

高速光速光器件(比如100G以上)在生产制造过程中，只会对光功率相关指标进行测试，而不会对器件的射频性能进行测试，但实际光器件在使用过程中，射频性能是光器件尤为重要的一项指标。很多光器件虽然光功率相关指标在器件端测试合格，但射频性能却不合格，此现象在高速光器件中表现的尤为明显，此种不良占比很高，导致器件焊接组装成光模块后发现射频性能不良后重复返工，浪费了大量的工时。除此之外，技术人员在对射频性能不良器件进行分析时，通常需要排除焊接及PCBA原因，从而需要进行繁琐的交叉实验。因此，本发明旨在提供一种基于高速光器件射频性能测试的方法，用于解决此类问题。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的传统光器件射频性能无法保证的技术问题。

本发明提供了一种基于光器件射频性能的测试方法，包括以下步骤：

S1，驱动待测光器件发光运行；

S2，利用二进制码作为信号源，根据所述信号源对所述待测光器件进行调制，注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号，根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。

优选地，所述S2具体包括：利用误码仪发射的伪随机二进制码作为高速信号源，通过时钟数据恢复，再利用激光器驱动器按照信号源对激光器进行调制。

优选地，所述S2中根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能具体包括：通过光示波器查看高速信号的光眼图，根据所述光眼图判断所述待测光器件的射频性能。

优选地，所述S2中判断所述待测光器件的射频性能具体包括：通过获取示波器的图像，将图像中的光眼图ER、示波器的眼图裕量及交叉点分别与对应各项指进行比较分析，若均在对应的指标浮动范围内，则判定所述待测光器件的射频性能满足要求。

优选地，所述S1具体包括：通过硬件电路设计，做成测试板形式，利用测试板驱动高速器件发光。

优选地，所述S2具体包括：

使用程控电源为射频测试板供电，误码仪提供高速信号，通过控制测试板的开关对光路进行切换，一路连接到功率计，用于测试待测光器件的光功率性能；另外一路连接到示波器，用于待测光器件的射频性能。

本发明还提供了一种基于光器件射频性能的测试系统，所述系统用于实现基于光器件射频性能的测试方法，包括：

测试板，用于驱动待测光器件发光运行，并利用二进制码作为信号源，根据所述信号源对所述待测光器件进行调制，注入不同大小的电流以使所述待测光器件产生相应的带调制信号的光信号；

射频性能测试模块，用于根据所述光信号分析出所述待测光器件的射频性能。

本发明还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机管理类程序时实现基于光器件射频性能的测试方法的步骤。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机管理类程序，所述计算机管理类程序被处理器执行时实现基于光器件射频性能的测试方法的步骤。