[发明专利]基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法在审
| 申请号： | 202210815039.3 | 申请日： | 2022-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN115305526A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 彭智;严上奇;彭建;严循东 | 申请（专利权）人： | 蓝冰河（常州）精密测量技术有限责任公司 |
| 主分类号： | C25D1/04 | 分类号： | C25D1/04;G01B15/02;G01N9/24 |
| 代理公司： | 常州市科佑新创专利代理有限公司 32672 | 代理人： | 阮文沁 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于电解铜箔生产技术领域，具体涉及一种基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法，其包括：采集铜箔厚度/面密度数据；根据铜箔厚度/面密度数据以及工艺数据获取偏差调节量；以及根据偏差调节量进行偏差自适应调节，能实现铜箔厚度/面密度一致性的自动控制，自动将铜箔面密度调节在技术标准范围内，并使得横向所有位置的面密度值呈水平分布；实现对铜箔面密度的实时监控、实时调整，实时测量铜箔面密度，根据测量数据对电解铜箔生产线进行自适应控制，实现对电解铜箔生产线的实时调整，并且实现电解铜箔在正常工作状态下的无人值守，最大限度地降本降耗，提高电解铜箔厚度/面密度的一致性，确保产品质量稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 测量 铜箔 厚度 密度 一致性 自适应 控制 方法 | ||
【主权项】：
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