[发明专利]基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法

说明书

本发明属于电解铜箔生产技术领域，具体涉及一种基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法，其包括：采集铜箔厚度/面密度数据；根据铜箔厚度/面密度数据以及工艺数据获取偏差调节量；以及根据偏差调节量进行偏差自适应调节，能实现铜箔厚度/面密度一致性的自动控制，自动将铜箔面密度调节在技术标准范围内，并使得横向所有位置的面密度值呈水平分布；实现对铜箔面密度的实时监控、实时调整，实时测量铜箔面密度，根据测量数据对电解铜箔生产线进行自适应控制，实现对电解铜箔生产线的实时调整，并且实现电解铜箔在正常工作状态下的无人值守，最大限度地降本降耗，提高电解铜箔厚度/面密度的一致性，确保产品质量稳定。

技术领域

本发明属于电解铜箔生产技术领域，具体涉及一种基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法。

背景技术

电解铜箔可以分为锂电铜箔以及标准铜箔。根据铜箔厚度的不同，可以分为极薄铜箔、超薄铜箔、薄铜箔、常规铜箔和厚铜箔；根据表面状况不同可以分为双面光铜箔、双面毛铜箔、双面粗铜箔、单面毛铜箔和超低轮廓铜箔（VLP铜箔）。锂电铜箔是锂电池的重要组成材料，受全球锂离子电池市场规模快速增长带动，锂电铜箔需求也保持着稳步增长的趋势。

随着锂电池朝着高容量化、高密度化以及高速化发展，对锂电池材料的要求也随之提高，锂离子电池市场对电解铜箔的要求与整体技术性能提升越来越高，包括但不限于铜箔表观质量、物理性能、稳定性以及均匀性等，与锂电池性能息息相关。

电解铜箔产品特征对锂电池性能的影响指标主要有厚度/面密度、抗拉强度及伸长率、表面粗糙度（轮廓）、厚度均匀性、铜箔表面质量、抗氧化性及耐腐蚀性、孔隙率等因素，尤其厚度均匀性、表面粗糙度对电解铜箔的质量影响至关重要，这主要体现在电解铜箔厚度/面密度的一致性能上。铜箔的面密度反映铜箔厚度的均匀程度，直接影响负极电极活性物质的涂敷量，铜箔的厚度均匀度假如波动太大，最终将影响到电池容量和一致性。

电解铜箔的制造过程主要有四大工序，包括溶铜、生箔、后处理以及分切工序，生箔是核心。为了提升电解铜箔的产品质量，各生产企业在生箔工序上进行了深入的研究与探讨，对生箔生产设备以及电解液、添加剂的选型、工艺配方、操作方法等多方面进行了改进。但生产企业在电解铜箔生产控制技术方面，如铜离子浓度、硫酸浓度、电解液温度、电解液流速、流量、电流密度等的参数之间如何进行整合是目前各企业所遇到的一大难题，而这些参数又如何与电解铜箔的厚度/面密度进行关联，这对提高产品质量非常重要。目前，电解铜箔生产企业在生箔环节中，横向铜箔面密度的控制主要通过人工测量各区面密度，生产人员根据所测数据对各进液阀的开度进行手动调节，该过程往往需要多次往复才能达到电解铜箔横向面密度偏差要求，该过程对员工的经验要求高，对原材料的浪费较大。为使电解铜箔生产线快速进入正常生产状态，且保证正常生产过程中铜箔面密度偏差的稳定性，需要对电解铜箔面密度的横向进行控制，并兼顾纵向控制。如何对铜箔面密度的横向、纵向进行控制，提高铜箔的生产质量，是电解铜箔生产企业在产品质量上首要关注的问题。

因此，基于上述技术问题需要设计一种新的基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种基于X射线测量的铜箔厚度面密度一致性自适应控制方法，包括：

采集铜箔厚度/面密度数据；

根据铜箔厚度/面密度数据以及工艺数据获取偏差调节量；以及

根据偏差调节量进行偏差自适应调节。

进一步，所述采集铜箔厚度/面密度数据的方法包括：

通过X射线探测器对铜箔厚度/面密度的扫描测量，获取铜箔厚度/面密度数据。

进一步，X射线探测器包括：X射线发射源以及接收探测头；