[发明专利]基于HIL测试系统的并行仿真模拟测试方法和相关设备在审
申请号: | 202210812789.5 | 申请日: | 2022-07-11 |
公开(公告)号: | CN115407745A | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 吕乐;谷成;张宇鸣;何婷;徐丹丹;杨景阳;孙佳川 | 申请(专利权)人: | 航天科工防御技术研究试验中心 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人: | 金含 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供一种基于HIL测试系统的并行仿真模拟测试方法和相关设备,HIL系统包括上位机、下位机和多个控制器,该方法包括:通过上位机构建多个整车模型,以及依据仿真模拟需求调整多个整车模型的内部参数,得到多个整车仿真模型;采用上位机对多个整车仿真模型进行编译;将经过编译的多个整车仿真模型分别写入到HIL测试系统下位机的多个核中的每个核,其中,整车仿真模型与控制器一一对应;利用进程间通讯IPC建立多个核之间的信息交互;利用多个控制器分别控制已实现信息交互的多个核中的全部整车仿真模型进行测试,得到仿真模拟测试结果。通过上述方法,实现并行仿真测试,提高了HIL测试设备资源利用率,拓展了HIL测试系统的应用范围。 | ||
搜索关键词: | 基于 hil 测试 系统 并行 仿真 模拟 方法 相关 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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