[发明专利]芯片测试设备在审
| 申请号： | 202210782000.6 | 申请日： | 2022-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN114859214A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 段雄斌;张利利;庞华贵;何选民 | 申请（专利权）人： | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04;G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 许烁 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请属于芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试设备，包括机架、芯片载台、测试组件、视觉组件、积分球组件和平移机构，芯片载台安装于机架上；测试组件安装于机架上，测试组件包括用于与芯片的引脚接触的测试针；视觉组件位于芯片载台的上方；积分球组件能够收集芯片发出的光线，积分球组件能够安装于机架上；平移机构与机架连接，平移机构的移动端与视觉组件连接；积分球组件还能够安装于平移机构的移动端上；积分球组件在安装于机架上时位于芯片载台的下方；积分球组件在安装于平移机构的移动端上时位于芯片载台的上方并与视觉组件沿平移机构移动端的平移方向并排设置，该芯片测试设备能够同时兼容正装芯片和倒装芯片的测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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