[发明专利]半导体装置及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202210704630.1 申请日: 2022-06-21
公开(公告)号: CN115732434A 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 榎本一雄 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L21/48;H01L23/495
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 周爽;周春燕
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供半导体装置及半导体装置的制造方法,能够提高密封部件与冷却板的紧贴性。冷却板(70)具备结合部(80),该结合部(80)包括形成于冷却板(70)正面的凹状的凹陷部(81)和形成于凹陷部(81)的内部且相对于冷却板(70)的正面以锐角倾斜的卡合面(82b)。若这样的结合部(80)也被密封部件密封,则突起部(82)的卡合面(82b)对于密封部件具有锚固效果。因此,抑制密封部件从冷却板(70)剥离。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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