[发明专利]智能芯片测试系统

摘要

本发明公开了智能芯片测试系统，该系统包括底板、固定架和活动架，所述底板顶端固定设置有固定架，所述底板顶端开设有第一滑槽，所述活动架底端活动设置有滚轮，所述活动架顶端设置有第一运输机构。本发明待检测芯片安置在运输轮之间位置，并且通过摇杆转动转盘，从而带动螺杆转动，如此使得活动架通过滚轮沿着第一滑槽内部移动，如此调节活动架与固定架之间间隔距离，直到运输轮将芯片夹持固定，如此方便对不同大小的芯片进行固定检测，并且运输时水平位置上芯片位置固定，无需人工再进行芯片的定位工作，提高了检测效。