[发明专利]智能芯片测试系统

权利要求书

1.智能芯片测试系统，包括底板（1）、固定架（5）和活动架（3），其特征在于：所述底板（1）顶端固定设置有固定架（5），所述底板（1）顶端开设有第一滑槽（2），所述活动架（3）底端活动设置有滚轮（4），所述活动架（3）顶端设置有第一运输机构（8），所述固定架（5）顶端设置有第二运输机构（9），所述第一运输机构（8）与第二运输机构（9）之间设置有调节机构，所述第一运输机构（8）顶端设置有第一传动轮（6），所述第二运输机构（9）顶端设置有第二传动轮（20），所述第一传动轮（6）与第二传动轮（20）之间环绕设置有第一传动带（21），所述第一传动带（21）为交叉带，所述第一运输机构（8）顶端设置有传动机构，所述第一运输机构（8）顶端设置有第一齿轮（24），所述固定架（5）外侧设置有检测机构，所述第一运输机构（8）与第二运输机构（9）之间设置有除杂机构。

2.根据权利要求1所述的智能芯片测试系统，其特征在于：所述第一运输机构（8）包括第三传动轮（18）、第三传动带（19）和运输轮（17），所述第一运输机构（8）顶端活动设置有第三传动轮（18），所述第三传动轮（18）之间环绕设置有第三传动带（19），所述第一齿轮（24）、第一传动轮（6）和第二传动轮（20）均与第三传动轮（18）同轴安装，所述第一运输机构（8）内部活动卡接设置有运输轮（17），所述运输轮（17）数量与第三传动轮（18）数量相同，并且运输轮（17）与第三传动轮（18）同轴安装。

3.根据权利要求2所述的智能芯片测试系统，其特征在于：所述调节机构包括转盘（11）、摇杆（12）、螺杆（10）、刻度尺（13）、空心块（14）、空心杆（16）和第一定位杆（15），所述固定架（5）内部通过螺纹穿插设置有螺杆（10），所述螺杆（10）一侧活动卡接在活动架（3）内部，所述螺杆（10）一侧固定设置有转盘（11），所述转盘（11）一侧固定设置有摇杆（12），所述活动架（3）一侧固定设置有空心块（14），所述固定架（5）一侧固定设置有刻度尺（13），所述刻度尺（13）活动穿过空心块（14）内部。

4.根据权利要求3所述的智能芯片测试系统，其特征在于：所述传动机构包括电机（22）、第二齿轮（23）、第四传动轮（28）、第五传动轮（26）、第四传动带（25）和第三齿轮（27），所述第一运输机构（8）顶端固定设置有电机（22），所述电机（22）输出端固定设置有第二齿轮（23），所述第二齿轮（23）顶端固定设置有第四传动轮（28），所述第二齿轮（23）与第一齿轮（24）啮合，所述第二齿轮（23）为半齿轮，所述第一运输机构（8）顶端活动设置有第三齿轮（27），所述第三齿轮（27）顶端固定设置有第五传动轮（26），所述第五传动轮（26）与第四传动轮（28）之间套接设置有第四传动带（25）。

5.根据权利要求4所述的智能芯片测试系统，其特征在于：所述检测机构包括标识机构、检测箱（29）、控制箱（31）、储存模块（33）、比对模块（34）、视觉检视摄像头（32）和输入模块（30），所述固定架（5）一侧固定设置有检测箱（29），所述检测箱（29）为U型，所述检测箱（29）内部设置有标识机构，所述检测箱（29）内部固定设置有控制箱（31），所述检测箱（29）内侧上下均固定设置有视觉检视摄像头（32），所述检测箱（29）一侧镶嵌固定设置有输入模块（30），所述检测箱（29）内部镶嵌固定设置有储存模块（33）和比对模块（34），所述视觉检测摄像头（32）、储存模块（33）、比对模块（34）和输入模块（30）均与控制箱（31）电性连接。