[发明专利]扫描探针显微镜以及控制方法在审

专利信息
申请号: 202210517615.6 申请日: 2022-05-12
公开(公告)号: CN115407086A 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 平出雅人 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01Q10/06 分类号: G01Q10/06
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种扫描探针显微镜以及控制方法。SPM(100)用于测定试样(S)。SPM(100)具备:试样台(14),其用于配置试样(S);探针(3),其以与试样(S)相向的方式配置;微动机构(12),其通过以使作用于探针(3)与试样(S)之间的原子力成为固定的方式执行反馈控制,来使探针(3)沿着试样(S)的表面相对地移动;以及信息处理装置(20),在尽管执行了反馈控制但原子力未成为固定的情况下,信息处理装置(20)停止试样(S)的测定。
搜索关键词: 扫描 探针 显微镜 以及 控制 方法
【主权项】:
暂无信息
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