[发明专利]基于折射数据的透镜质量分析方法、装置、设备及介质

摘要

本发明涉及光学元件质量检测技术领域，提出一种基于折射数据的透镜质量分析方法包括：获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；根据所述光轴向量，对所述待检测透镜发射激光；记录激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。本发明可以能同时对于透镜内部及外部进行质量检测。