[发明专利]基于折射数据的透镜质量分析方法、装置、设备及介质

说明书

本发明涉及光学元件质量检测技术领域，提出一种基于折射数据的透镜质量分析方法包括：获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；根据所述光轴向量，对所述待检测透镜发射激光；记录激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。本发明可以能同时对于透镜内部及外部进行质量检测。

技术领域

本发明涉及光学元件质量检测技术领域，特别涉及一种基于折射数据的透镜质量分析方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着人类对世界的探索及机器视觉的不断发展，人们对光学元件的要求也越来越高，目前常见的透镜质量分析方法是通过图像机器识别或人眼识别的方式对透镜的光学显微图像进行观察，发现透镜的污渍、划痕等微小痕迹，从而对透镜质量进行把控，然而这检测方式只能观测到透镜表面的质量问题，却不能识别透镜的内在质量问题。

近年来为了光学元件在不同环境的适应性，透镜材料中也添加各种各样的高分子或稀有元素，透镜元素量级的改变，使得图像分析的透镜检测方式无法检测出透镜材料、使用效果分布不均匀，造成透镜折射率及特殊效果分布不均匀的问题。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种基于折射数据的透镜质量分析方法、装置，其目的在于同时对于透镜内部及外部进行质量检测。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种基于折射数据的透镜质量分析方法，所述方法包括：

获取待检测透镜的标准参数，并识别所述待检测透镜的光轴向量；

根据所述光轴向量，利用预构建的激光发生器，对所述待检测透镜发射激光；

利用预构建的垂直于所述光轴向量的光感元件，记录所述激光发生器在根据预设的滑动规则移动时对所述待检测透镜发射激光产生的光斑位置及光压强度，得到光斑移动曲线及光压变化曲线；

根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，并利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果。

可选的，所述利用所述光压变化识别模型，对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行折射数据匹配，得到所述待检测透镜的质量检测结果，包括：

获取所述待检测透镜对应的模拟的光压热力图谱，并利用所述光压变化识别模型中的图像识别网络层对所述光压热力图谱进行图像特征提取操作，得到第一特征集合；

利用所述图像识别网络层，分别对所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线进行曲线特征提取操作，得到第二特征集合及第三特征集合；

利用所述光压变化识别模型中的决策树分类网络，根据所述第一特征集合、所述第二特征集合及所述第三特征集合，判断所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线是否平滑，并判断所述光斑移动曲线上的光压强度是否符合所述光压热力图谱；

当所述光斑移动曲线及所述光压变化曲线平滑，且所述光斑移动曲线上的光压强度符合所述光压热力图谱时，判定所述待检测透镜的质量合格。

可选的，所述根据所述标准参数对预训练的光压变化识别模型进行参数配置，得到符合所述待检测透镜的透镜类型的光压变化识别模型，包括：

对所述标准参数进行量化编码，得到量化参数；