[发明专利]一种粉体颗粒截面样品制备方法在审
| 申请号： | 202210491864.2 | 申请日： | 2022-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN114878611A | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 付海宽;郑亚博;王玉娇;刘亚飞;陈彦彬 | 申请（专利权）人： | 北京当升材料科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 北京正和明知识产权代理事务所(普通合伙) 11845 | 代理人： | 李建刚 |
| 地址： | 100160 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种粉体颗粒截面样品制备方法，尤其是一种扫描电镜微米粉体颗粒截面样品制备方法。该制备方法为：以CMC和水制成调制溶剂备用；将碳导电剂、测试材料和分散剂充分混合形成粉体混合物；将所述粉体混合物加入到所述调制溶剂内，在40‑50℃下搅拌均匀，并滴入SBR进行粘度调制，形成测试样品；最后将所述测试样品置于模具中，加热固化后，进行研磨和/或减薄，即得。本发明采用新的浆料体系延长固化时间，使样品与包埋剂充分混合；利用球形氧化铝作为分散剂将小颗粒均匀分散在包埋剂内；同时，通过专用制样模具降低铝，铜箔干扰，快速提供导电性良好无污染的截面样品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 截面 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京当升材料科技股份有限公司，未经北京当升材料科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210491864.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
