[发明专利]一种粉体颗粒截面样品制备方法在审
| 申请号： | 202210491864.2 | 申请日： | 2022-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN114878611A | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 付海宽;郑亚博;王玉娇;刘亚飞;陈彦彬 | 申请（专利权）人： | 北京当升材料科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 北京正和明知识产权代理事务所(普通合伙) 11845 | 代理人： | 李建刚 |
| 地址： | 100160 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 截面 样品 制备 方法 | ||
1.一种粉体颗粒截面样品制备方法，包括如下步骤：
S1：以CMC和水制成调制溶剂备用；
S2：将碳导电剂、测试材料和分散剂充分混合形成粉体混合物；
S3：将步骤S2中所述粉体混合物加入到步骤S1中所述调制溶剂内，在40-50℃下搅拌均匀，并滴入SBR进行粘度调制，形成测试样品；
S4：将步骤S3中所述测试样品置于模具中，加热固化后，进行研磨和/或减薄，即得。
2.根据权利要求1所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S1中所述的CMC和水的质量比为(2-3)：(97-98)。
3.根据权利要求1所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S2中，所述碳导电剂与测试材料和分散剂之和的质量比为(20-50)：(50-80)。
4.根据权利要求1-3任一项所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S2中所述分散剂为粒径3-10微米的球形氧化铝。
5.根据权利要求4所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，所述球形氧化铝满足以下条件之一：
a.当所述测试材料尺寸为5微米以下时，所述球形氧化铝粒径为3-4微米；
b.当所述测试材料尺寸为6-8微米时，所述球形氧化铝粒径为5-8微米；
c.当所述测试材料尺寸为9-15微米时，所述球形氧化铝粒径为9-10微米。
6.根据权利要求5所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，所述条件a中，所述测试材料和球形氧化铝的质量比为(2.95-3.15)：1；
所述条件b中，所述测试材料和球形氧化铝的质量比为(3.85-4.25)：1；
所述条件c中，所述测试材料和球形氧化铝的质量比为(4.80-5.25)：1。
7.根据权利要求1所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S3中，所述调制溶剂、粉体混合物和SBR的质量比为：(45-55)：(23-44)：(1-2)。
8.根据权利要求1所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S4中所述加热固化的温度为80-120℃，加热固化时间为30-60分钟。
9.根据权利要求1所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，步骤S4中所述模具为具有至少一个样品槽的立方体模具。
10.根据权利要求9所述的粉体颗粒截面样品制备方法，其特征在于，所述样品槽为立方体形；
优选地，所述样品槽内表面为磨砂面；
优选地，所述模具至少一面上设有刻度标尺，用于对所述测试样品进行辅助定位。
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