[发明专利]一种量产测试方法、系统和存储介质在审
| 申请号： | 202210468487.0 | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114850080A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 汪秀全;袁鹏 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈颖 |
| 地址： | 201199 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种量产测试方法、系统和存储介质，以实现在量产测试时做到测试数据质量高、良率损失低且测试时间短三者兼顾。该方法包括：获取同一型号不同批次的芯片的实测参数；基于所述实测参数，分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控；对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试；根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 量产 测试 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海艾为电子技术股份有限公司，未经上海艾为电子技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210468487.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
