[发明专利]一种量产测试方法、系统和存储介质

权利要求书

1.一种量产测试方法，其特征在于，包括：

获取同一型号不同批次的芯片的实测参数；

基于所述实测参数，分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控；

对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试；

根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。

2.根据权利要求1所述的量产测试方法，其特征在于，所述对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试，包含：对经所述联合卡控筛选出的问题批次中的良品进行部件平均测试。

3.根据权利要求1或2所述的量产测试方法，其特征在于，所述根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果，包括：

将经所述联合卡控筛选出的失效品和经所述部件平均测试筛选出的失效品标记为本次量产测试确定的所有失效品，其余均为良品。

4.根据权利要求1或2所述的量产测试方法，其特征在于，所述分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控，包括：

分别计算各批次的良率，以及各批次在第m个预先指定的测试项上的失效率；m＝1、2、…、k，k为大于0的整数；

对于每一批次，当本批次的良率未超出预设的良率下限，并且本批次在第m个预先指定的测试项上的失效率未超出对应本测试项预设的失效率上限时，判定本批次为正常批次；反之，判定本批次为问题批次。

5.根据权利要求4所述的量产测试方法，其特征在于，在所述量产测试方法执行过程中，还包括：

判断是否达到所述良率下限和所述失效率上限的预定更新时间，以及判断从上一次更新所述良率下限和所述失效率上限开始距当前所测试的芯片数量是否达到第一预设个数，当达到所述预定更新时间和所述第一预设个数的至少其中之一时，更新所述良率下限和所述失效率上限。

6.根据权利要求1所述的量产测试方法，其特征在于，所述部件平均测试将未超出规格上限和规格下限的芯片判定为良品，其余均为失效品。

7.根据权利要求6所述的量产测试方法，其特征在于，在所述量产测试方法执行过程中，还包括：

判断是否达到所述规格上限和所述规格下限的预定更新时间，以及判断从上一次计算所述规格上限和所述规格下限开始距当前所测试的芯片数量是否达到第二预设个数，当达到所述定期更新时间和所述第二预设个数的至少其中之一时，更新所述规格上限和所述规格下限。

8.根据权利要求6所述的量产测试方法，其特征在于，所述部件平均测试包括：动态部件平均测试或静态部件平均测试；所述动态部件平均测试相比所述静态部件平均测试对所述规格上限和所述规格下限的更新频率高。

9.一种量产测试系统，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取同一型号不同批次的芯片的实测参数；

以及处理单元，用于基于所述实测参数，分别对各批次进行失效率和良率的联合卡控；对经所述联合卡控筛选出的问题批次进行部件平均测试；根据联合卡控结果和部件平均测试结果输出本次量产测试结果。

10.一种存储介质，其特征在于，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现如权利要求1～7中任一项所述的量产测试方法。