[发明专利]一种激光芯片测试分选机的上料机构及其工作方法在审
| 申请号： | 202210449303.6 | 申请日： | 2022-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN114932089A | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 邓艳汉;苏婷 | 申请（专利权）人： | 泉州兰姆达仪器设备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B65G49/07;B65G47/91 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 黄诗锦;蔡学俊 |
| 地址： | 362712 福建省泉州市石狮市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光芯片测试分选机的上料机构及其工作方法，包括机架，所述机架上设有可在依次分布的取料工位、高温测试工位、低温测试工位之间往复移动的上料座，所述上料座的前侧左右两端分别设有吸料机构，所述吸料机构包含由驱动机构驱动升降的吸嘴安装座，所述吸嘴安装座上设置有芯片吸嘴；所述取料工位设有位于蓝膜盘下方的顶针机构，所述顶针机构包含顶针座，所述顶针座的顶面中部设有顶针穿孔，所述顶针穿孔的外侧设有若干个负压吸附孔；所述顶针座的内部设有由升降机构驱动向上贯穿顶针穿孔的顶针。本发明结构设计合理，可方便将单颗激光芯片在不同工位之间进行移动，有效提高上料效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 芯片 测试 分选 机构 及其 工作 方法 | ||
【主权项】：
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