[发明专利]一种IGBT模块测试平台在审
| 申请号： | 202210436296.6 | 申请日： | 2022-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114754958A | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 向晟 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯愚公半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02 |
| 代理公司： | 深圳中恒科专利代理有限公司 44808 | 代理人： | 解晓阳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区民治*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及IGBT模块测试技术领域，具体为一种IGBT模块测试平台，通过治具组件将IGBT模块固定于振动机构，通过振动机构模拟IGBT模块工作时的振动环境，经过设定时长的振动后，通过取料夹具从振动机构处的治具组件将IGBT模块取出，然后通过移动机构运送至测试机构处的治具组件进行固定，测试机构对治具组件处的IGBT模块进行检测，振动机构能有效模拟IGBT模块的振动工作环境，并能通过测试机构的测试仪对经历过振动的IGBT模块进行检测，测试结果真实、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 模块 测试 平台 | ||
【主权项】：
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