[发明专利]一种IGBT模块测试平台在审

专利信息
申请号: 202210436296.6 申请日: 2022-04-25
公开(公告)号: CN114754958A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 向晟 申请(专利权)人: 深圳市芯愚公半导体有限公司
主分类号: G01M7/02 分类号: G01M7/02
代理公司: 深圳中恒科专利代理有限公司 44808 代理人: 解晓阳
地址: 518000 广东省深圳市龙华区民治*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 igbt 模块 测试 平台
【权利要求书】:

1.一种IGBT模块测试平台,其特征在于,包括模拟平台(1)、运送组件(2)、测试机构(3)、治具组件(4);

所述模拟平台(1)包括振动机构(11),所述振动机构(11)安装有所述治具组件(4);

所述运送组件(2)包括取料夹具(21)及移动机构(22),所述取料夹具(21)在所述模拟平台(1)处取料后,通过所述移动机构(22)带动所述取料夹具(21)移至所述测试机构(3);

所述测试机构(3)包括测试台(31)、探针组件(32)及测试仪(33),所述测试台(31)安装有所述治具组件(4),来自所述模拟平台(1)的IGBT模块在所述治具组件(4)处定位后,所述探针组件(32)与IGBT模块的引脚导通,所述探针组件(32)与所述测试仪(33)电性相连;

其中,待检测的IGBT模块在振动机构(11)上料后可拆卸的固定于所述治具组件(4),所述振动机构(11)模拟IGBT模块的工况进行持续振动,振动结束后,通过所述运送组件(2)从所述振动机构(11)处的所述治具组件(4)将IGBT模块取出,然后运送至所述测试机构(3)处的所述治具组件(4)进行固定,测试机构(3)对治具组件(4)处的IGBT模块进行检测。

2.根据权利要求1所述的一种IGBT模块测试平台,其特征在于,所述振动机构(11)包括振动盘(111),所述治具组件(4)安装于所述振动盘(111),所述振动盘(111)背离所述治具组件(4)的一面设置有传动轴(112);

所述传动轴(112)背离所述振动盘(111)的一端连接有偏心组件(115),所述偏心组件(115)包括偏心轮(1151)及第一电机(1152),所述偏心轮(1151)安装于所述第一电机(1152)的输出端,所述偏心轮(1151)的外缘与所述传动轴(112)的端面相切。

3.根据权利要求2所述的一种IGBT模块测试平台,其特征在于:所述振动机构(11)还包括轴承(113),所述轴承(113)内孔固定卡接有铜套(114),所述铜套(114)的外径与所述轴承(113)的内径相匹配,所述铜套(114)的内径与所述传动轴(112)的直径相匹配,所述传动轴(112)套接于所述铜套(114)内,所述传动轴(112)在所述铜套(114)的导向下窜动。

4.根据权利要求2所述的一种IGBT模块测试平台,其特征在于:所述振动机构(11)还包括第一齿轮(116)、第二齿轮(117)及第二电机(118),所述第一齿轮(116)的内径与所述传动轴(112)的直径相匹配,所述第一齿轮(116)设置有卡销(1161),所述传动轴(112)设置有卡槽(1121),所述卡销(1161)与所述卡槽(1121)相匹配,所述传动轴(112)的中心不与安装于所述振动盘(111)的所述治具组件(4)的中心重合;

所述第二齿轮(117)安装于所述第二电机(118)的输出轴,所述第二齿轮(117)与所述第一齿轮(116)啮合。

5.根据权利要求4所述的一种IGBT模块测试平台,其特征在于:所述卡槽(1121)的数量为三个或三个以上,所述卡槽(1121)沿所述传动轴(112)的中心呈圆周均匀分布,所述卡销(1161)的数量及位置与所述卡槽(1121)相对应。

6.根据权利要求1所述的一种IGBT模块测试平台,其特征在于:所述治具组件(4)包括固定治具(41)及随行治具(42),所述随行治具(42)可拆卸的安装于所述固定治具(41),所述固定治具(41)的数量为两组,一组所述固定治具(41)固定安装于所述振动机构(11),另一组所述固定治具(41)固定安装于所述测试台(31),IGBT模块安装于所述随行治具(42),所述所述取料夹具(21)在治具组件(4)处取料时,所述随行治具(42)随IGBT模块一同取出。

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