[发明专利]数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪在审
| 申请号： | 202210334591.0 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN114740329A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 夏川;杜侃 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185;H03L7/18 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 张晓薇 |
| 地址： | 710000 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本申请涉及芯片测试技术领域。公开了一种数据比对装置、数据比对方法及芯片测试仪，该数据比对装置包括：数据比对模组，数据比对模组包括第一输入端、第二输入端和输出端；第二输入端用于连接外部设备，被配置为从外部设备接收期望数据；第一输入端用于连接芯片测试设备，芯片测试设备用于测试待测试芯片，并输出待测试芯片的测试数据，第一输入端被配置为从芯片测试设备接收测试数据；其中，响应于芯片测试设备输出测试数据，第一输入端接收测试数据，并将测试数据与期望数据进行比对，以得到数据比对结果。通过上述的数据比对装置，能够根据寄存模组存储的参数实时地比对测试数据和期望数据，保证芯片测试的实时性以及提高芯片测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 数据 装置 方法 芯片 测试仪 | ||
【主权项】：
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