[发明专利]一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置在审
| 申请号： | 202210324142.8 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN114664370A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 杨密凯 | 申请（专利权）人： | 深圳市宏旺微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;B65G49/07 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片，所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位，本发明为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，可以实现自动化规整存储芯片的目的，本发明有效减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 自动化 存储 芯片 测试 对齐 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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