[发明专利]一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置

权利要求书

1.一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,其特征在于:

所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片;

所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位。

2.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的芯片对齐装置还包含设置在所述固定板两端下面的支撑板，所述的支撑板用于支撑所述的固定板。

3.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于, 所述的芯片对齐装置还包含底板，所述的活动板滑动设置在所述的底板之上。

4.如权利要求3所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的活动板通过滑动件设置在所述的底板之上；

所述的底板上还设置有气缸，所述气缸的伸缩部固定在所述的活动板上，所述的气缸驱动伸缩部的伸缩来实现所述活动板的滑动。

5.如权利要求4所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的滑动件为导轨或滑槽。

6.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的校正块包含固定部与校正部,所述的固定部与校正部都设置在所述的活动板上,所述校正部的一端还通过弹性元件连接所述的固定部。

7.如权利要求6述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的校正部包含两个校正面。

8.如权利要求7述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的校正面上还设置有缓冲层。

9.如权利要求8述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的缓冲层为硅胶层、橡胶层、EVA海绵层中的一种或两种。

10.如权利要求1所述的用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,其特征在于,所述的芯片对齐装置还包含传感器，所述的传感器设置在所述固定板的两端，用于感应所述限位槽中放置存储芯片的动作。