[发明专利]一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置

说明书

本发明公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片，所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位，本发明为实现规模化的存储芯片自动化测试奠定了基础，可以实现自动化规整存储芯片的目的，本发明有效减少了人力的投入，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。

技术领域

本发明涉及一种芯片测试技术领域，特别是涉及一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。

在存储芯片的自动化测试中往往是多存储芯片同时测试，在存储芯片的抓取到定位放置到测试工位过程中需要对存储芯片进行规整对齐，这样存储芯片才能高准确率的放置到测试工位中。

所以存储芯片对齐技术是实现存储芯片自动化测试的关键技术, 存储芯片对齐技术可以有效的减少人力的投入，不但能实现芯片测试的效率还可为企业节约大量的成本。

发明内容

针对以上现有技术的不足，本发明公开了一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置，本技术方案应用于存储芯片自动测试设备，机械手从芯片料盘中抓取存储芯片后会在本技术方案中把存储芯片进行规整，之后再送入测试机构进行测试。本技术方案可以实现规整存储芯片的目的，提高存储芯片定位装入测试工位的准确率，从而提高存储芯片的自动化测试效率。本技术方案具体如下：

一种用于自动化存储芯片测试的芯片对齐装置,包含活动板与固定板,所述的固定板上设置有多个限位槽,所述的多个限位槽间隔均匀的形成整齐的一排,所述的限位槽用于放置及规整存储芯片。

所述的活动板上设置有与所述限位槽一一对应的校正块,当需要规整存储芯片时,所述的校正块滑动至对应的所述限位槽,并把所述限位槽中的存储芯片推压至目标规整位。

进一步地,所述的芯片对齐装置还包含设置在所述固定板两端下面的支撑板，所述的支撑板用于支撑所述的固定板。

进一步地, 所述的芯片对齐装置还包含底板，所述的活动板滑动设置在所述的底板之上。

进一步地,所述的活动板通过滑动件设置在所述的底板之上。

所述的底板上还设置有气缸，所述气缸的伸缩部固定在所述的活动板上，所述的气缸驱动伸缩部的伸缩来实现所述活动板的滑动。

进一步地,所述的滑动件为导轨或滑槽。

进一步地,所述的校正块包含固定部与校正部,所述的固定部与校正部都设置在所述的活动板上,所述校正部的一端还通过弹性元件连接所述的固定部。

进一步地, 所述的校正部包含两个校正面。

进一步地,所述的校正面上还设置有缓冲层。

进一步地,所述的缓冲层为硅胶层、橡胶层、EVA海绵层中的一种或两种。

进一步地,所述的芯片对齐装置还包含传感器，所述的传感器设置在所述固定板的两端，用于感应所述限位槽中放置存储芯片的动作。