[发明专利]一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统在审
| 申请号： | 202210258090.9 | 申请日： | 2022-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN114660648A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 赵镇乾;徐帅;张冠;赵斌;范路遥;陈超;杜小倩;张敬书;吴俊宇;张倩敏 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 姚楠 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统，用以解决现有技术中存在的校正X射频探测器采集的图像不够快速、准确的技术问题，该方法包括：获取当前采集的第一图像与上次采集的第二图像的时间差；根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系，确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像，在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度，并将所述残像的灰度作为所述第一图像对应的灰度校正量；用所述灰度校正量对所述第一图像进行残像校正，获得校正后的第一图像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平板 探测器 及其 校正 方法 检测 系统 | ||
【主权项】：
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