[发明专利]一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统

说明书

本发明公开了一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统，用以解决现有技术中存在的校正X射频探测器采集的图像不够快速、准确的技术问题，该方法包括：获取当前采集的第一图像与上次采集的第二图像的时间差；根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系，确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像，在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度，并将所述残像的灰度作为所述第一图像对应的灰度校正量；用所述灰度校正量对所述第一图像进行残像校正，获得校正后的第一图像。

技术领域

本发明涉及成像领域，尤其是涉及一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统。

背景技术

数字X射线探测器分为X射线直接侦测与间接侦测，相比较而言间接侦测探测器耐久性与DQE更高，造价低廉，而更为广泛应用。

间接侦测式X射线探测器包括薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)开关器件阵列，以及对应于每个TFT器件的光电二极管器件，由上述两种器件共同构成一个像素，以及覆盖于整个X射线探测器面板上方的闪烁体。间接侦测式X射线探测器的工作原理为：X射线照射面板时，X射线经由闪烁体转化为可见光，可见光继续向下传递至处于反置偏压状态的光电二极管，将光信号转化为电信号并存储至像素的存储电容，并根据读出时序逐行依次打开TFT开关器件，通过读取芯片度读取数据，形成图像。

受制于X射线探测器生产工艺的不均一性导致TFT与光电二极管器件存在微小差别，以及X射线照射的不均一性，即便空采图像往往也存在着像素灰度不均的问题，针对这一现象往往需要进行图像校正。现有的图像校正手段包含暗场校正以及增益校正，然而上述图像校正手段无法处理因上一帧图像采集后造成的残像。残像的成因包含两部分，分别为闪烁体余辉，以及光电二极管的缺陷对于电子的捕获、释放。对于释放光电二极管的残余电子，可以通过复位光电二极管，或在X射线探测器处于空闲状态时，为光电二极管提供一次电场反转实现。而闪烁体的余辉则难以通过人为干预的形式快速释放，由于闪烁体的余辉释放时间较长，不可避免地造成使用者(如医师)需要等待，或在连续的图像采集时，图像包含了上一帧采集的残像，混淆使用者的判断。

鉴于此，如何快速、准确校正X射频探测器采集的图像，成为一个亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统，用以解决现有技术中存在的校正X射频探测器采集的图像不够快速、准确的技术问题。

第一方面，为解决上述技术问题，本发明实施例提供的一种平板探测器残像校正的方法的技术方案如下：

获取当前采集的第一图像与上次采集的第二图像的时间差；

根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系，确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像，在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度，并将所述残像的灰度作为所述第一图像对应的灰度校正量；

用所述灰度校正量对所述第一图像进行残像校正，获得校正后的第一图像。

一种可能的实施方式，获取采集当前的第一图像与上次的第二图像的时间差，包括：

获取采集所述第一图像的第一时间；

获取采集所述第二图像的第二时间；

对所述第一时间与所述第二时间进行差运算，获得所述时间差。

一种可能的实施方式，根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系，确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像，在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度，包括：

若所述时间差大于或等于所述闪烁体对应的光衰减时长，则所述残像的灰度为0；