[发明专利]一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统在审

专利信息
申请号: 202210258090.9 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN114660648A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 赵镇乾;徐帅;张冠;赵斌;范路遥;陈超;杜小倩;张敬书;吴俊宇;张倩敏 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T7/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 姚楠
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 平板 探测器 及其 校正 方法 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种平板探测器残像校正的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取当前采集的第一图像与上次采集的第二图像的时间差;

根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系,确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像,在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度,并将所述残像的灰度作为所述第一图像对应的灰度校正量;

用所述灰度校正量对所述第一图像进行残像校正,获得校正后的第一图像。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,获取采集当前的第一图像与上次的第二图像的时间差,包括:

获取采集所述第一图像的第一时间;

获取采集所述第二图像的第二时间;

对所述第一时间与所述第二时间进行差运算,获得所述时间差。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系,确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像,在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度,包括:

若所述时间差大于或等于所述闪烁体对应的光衰减时长,则所述残像的灰度为0;

若所述时间差小于所述闪烁体对应的光衰减时长,则根据所述第二图像、所述第二图像对应的光衰减系数、所述环境温度,以及所述时间差,确定所述残像的灰度。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,根据所述第二图像、所述第二图像对应的光衰减系数、所述环境温度,以及所述时间差,确定所述残像的灰度,包括:

用预设关系式对所述环境温度以及所述时间差进行计算,确定所述光衰减系数;其中,所述预设关系式是根据平板探测器在不同温度条件下,不同间隔时长对应的第一暗态图像与第二暗态图像确定的,所述第一暗态图像为曝光亮态图像后采集的暗态图像,所述第二暗态图像为根据所述亮态图像拟合的间隔所述间隔时长后的暗态图像;

对所述第二图像、所述光衰减系数、所述当前温度,以及所述时间差进行积运算,获得所述残像的灰度。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设关系式的获取方式,包括:

在不同测试环境温度下,采集所述亮态图像,并在曝光所述亮态图像后,采集所述第一暗态图像;

根据所述亮态图像拟合出在所述测试环境温度下,与采集所述亮态图像后间隔所述间隔时长的所述第二暗态图像的灰度值;

根据所述第一暗态图像的灰度值、所述第二暗态图像的灰度值,以及所述间隔时长,确定所述预设关系式。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述预设关系式为:

at=[Graylevel(1st)t–Graylevel(n)t]/[Time·Graylevel(1st)t];

其中,t为所述测试环境温度,at为在所述测试环境温度下的光衰减系数,Graylevel(1st)t为在所述测试环境温度下的所述第一暗态图像的灰度值,Graylevel(n)t为在所述测试环境温度下的所述第二暗态图像的灰度值,Time为所述设定时长。

7.如权利要求1-6任一项所述的方法,其特征在于,用所述灰度校正量对所述第一图像进行校正,获得校正后的第一图像,包括:

对所述第一图像与所述灰度校正量进行矩阵差运算,获得所述校正后的第一图像。

8.一种平板探测器,其特征在于,包括:

平板探测器面板;

温度传感器,设置在所述平板探测器面板中,用于采集所述平板探测器面板所在环境的环境温度;

可编程逻辑阵列FPGA,用于存储确定光衰减系数的预设关系式,并从所述平板探测器面板采集第一图像,同时从所述温度传感器获取当前的环境温度,执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

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