[发明专利]一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法在审
| 申请号： | 202210151907.2 | 申请日： | 2022-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN114550811A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 四川创安微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 成都行之智信知识产权代理有限公司 51256 | 代理人： | 李林 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国（四川）自由贸*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法，包括DFT模式控制模块、MBIST控制模块、系统电路模块和控制引脚连接模块，DFT模式控制模块，用于控制并设定LPD引脚的值并提供测试模式和系统模式的模式之间的切换信号ALL_TEST；MBIST控制模块，用于控制并提供使能信号，并将测试模式切换至MBIST模式；测试模式包括MBIST模式；所述系统电路模块，用于控制并提供使能信号和LPD引脚的值；控制引脚连接模块，用于根据DFT模式控制模块、MBIST控制模块、系统电路模块生成的测试模式，插入测试回路，控制存储器相应引脚的连接及测试。本发明保证存储器的功能性引脚正常工作，提高良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 存储器 功耗 开关 引脚 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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