[发明专利]接口性能测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210150965.3 | 申请日： | 2022-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN114579434A | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 郑绪春 | 申请（专利权）人： | 平安国际智慧城市科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人： | 胡安 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及人工智能领域，公开了一种接口性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待测试的组件信息和对应的性能指标集，所述组件信息包括接口信息和资源分配信息；对所述接口信息进行接口公共行为的切面封装，得到封装信息，并对所述封装信息进行参数对应；根据参数对应后的封装信息和所述性能指标集，采用预置模拟压测方法对对应的待测试组件进行模拟测试，得到模拟测试结果；根据所述资源分配信息，采用预置基准测试方法对所述模拟测试结果进行基准指标分析，得到接口性能测试结果。实现了对开发产品接口性能的有效测试。 | ||
| 搜索关键词： | 接口 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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