[发明专利]接口性能测试方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种接口性能测试方法，特征在于，所述接口性能测试方法包括：

获取待测试的组件信息和对应的性能指标集，所述组件信息包括接口信息和资源分配信息；

对所述接口信息进行接口公共行为的切面封装，得到封装信息，并对所述封装信息进行参数对应；

根据参数对应后的封装信息和所述性能指标集，采用预置模拟压测方法对对应的待测试组件进行模拟测试，得到模拟测试结果；

根据所述资源分配信息，采用预置基准测试方法对所述模拟测试结果进行基准指标分析，得到接口性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的接口性能测试方法，其特征在于，所述对所述接口信息进行接口公共行为的切面封装，得到封装信息包括：

对所述接口信息进行解析，得到多个功能数据，并按照功能类别对各所述功能数据进行分类；

根据分类的结果，选取公共行为类别的功能数据并封装，得到多个接口封装切面，以及基于各所述接口封装切面生成封装信息。

3.根据权利要求2所述的接口性能测试方法，其特征在于，所述对所述封装信息进行参数对应之前，还包括：

匹配各所述接口封装切面对应的预置基准测试方法，并根据匹配的结果，将各所述接口封装切面与对应的基准测试方法进行连接；

对连接后的接口封装切面进行接口参数和接口类型的反射。

4.根据权利要求2所述的接口性能测试方法，其特征在于，所述对所述封装信息进行参数对应包括：

根据所述封装信息中各功能数据的功能类型，通过预置反射机制对所述封装信息进行参数赋值；

根据赋值的参数，将所述封装信息中的接口封装切面进行参数对应。

5.根据权利要求1所述的接口性能测试方法，其特征在于，所述根据参数对应后的封装信息和所述性能指标集，采用预置模拟压测方法对对应的待测试组件进行模拟测试，得到模拟测试结果包括：

根据所述封装信息对应后的参数，利用预置网页模型请求方法调用相应接口测试方法的测试框架；

根据所述接口测试方法和所述测试框架，对所述性能指标集中的各个性能指标进行模拟测试，得到对应的模拟测试结果。

6.根据权利要求1所述的接口性能测试方法，其特征在于，所述根据所述资源分配信息，采用预置基准测试方法对所述模拟测试结果进行基准指标分析，得到接口性能测试结果包括：

解析所述资源分配信息，得到所述待测试组件运行的性能预期值；

将预置基准指标与所述性能预期值进行比较，并基于比较的结果生成接口性能测试结果。

7.一种接口性能测试装置，其特征在于，所述接口性能测试装置包括：

获取模块，用于获取待测试的组件信息和对应的性能指标集，所述组件信息包括接口信息和资源分配信息；

封装模块，用于对所述接口信息进行接口公共行为的切面封装，得到封装信息，并对所述封装信息进行参数对应；

测试模块，用于根据参数对应后的封装信息和所述性能指标集，采用预置模拟压测方法对对应的待测试组件进行模拟测试，得到模拟测试结果；

分析模块，用于根据所述资源分配信息，采用预置基准测试方法对所述模拟测试结果进行基准指标分析，得到接口性能测试结果。

8.根据权利要求7所述的接口性能测试装置，所述封装模块包括：

解析单元，用于对所述接口信息进行解析，得到多个功能数据，并按照功能类别对各所述功能数据进行分类；

分类单元，用于根据分类的结果，选取公共行为类别的功能数据并封装，得到多个接口封装切面，以及基于各所述接口封装切面生成封装信息。

9.一种接口性能测试设备，其特征在于，所述接口性能测试设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；

所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述接口性能测试设备执行如权利要求1-6中任一项所述的接口性能测试方法的各个步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，其特征在于，所述指令被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述接口性能测试方法的各个步骤。