[发明专利]芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法、存储介质在审
| 申请号： | 202210085226.0 | 申请日： | 2022-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN114492257A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 马骁 | 申请（专利权）人： | 杭州云合智网技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 上海洞见未来专利代理有限公司 31467 | 代理人： | 苗绘 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州市萧山区萧山经济技*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法，包含如下步骤：创建随机约束的基类；将配置对象的数据成员传递到该基类中；对基类进行派生，获取若干独立的封装类；创建随机约束的类队列，各个封装类通过调用接口加入类队列；创建包含随机约束的配置对象的基类；基于配置对象的基类创建配置对象，并声明例化封装类和随机约束的类队列，调用随机约束的接口方法将需要的封装类加入随机约束的类队列，最终实现配置对象的随机约束求解。本发明能够根据项目需要，由验证开发人员通过方便地调用随机约束的开关接口方法，轻松得到目标随机约束的合法区间值，从而实现对随机约束程序块的管理控制和代码的重用，大大提升了项目开发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 测试 随机 约束 管理 重用 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
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