[发明专利]芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法、存储介质在审

专利信息
申请号: 202210085226.0 申请日: 2022-01-25
公开(公告)号: CN114492257A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 马骁 申请(专利权)人: 杭州云合智网技术有限公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33
代理公司: 上海洞见未来专利代理有限公司 31467 代理人: 苗绘
地址: 311200 浙江省杭州市萧山区萧山经济技*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 芯片 验证 测试 随机 约束 管理 重用 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,所述随机约束包含若干随机子约束,用于约束芯片验证测试用例的配置对象的成员变量,其特征在于,包含如下步骤:

创建所述随机约束的基类,所述基类为参数化类;

将所述配置对象的数据成员作为参数传递到所述随机约束的基类中;

对所述随机约束的基类进行派生,获取若干独立的封装类,各个所述封装类中封装对应的所述随机子约束;

创建所述随机约束的类队列,所述类队列包含调用接口,各个所述封装类通过所述调用接口加入所述类队列;

创建所述配置对象的基类,所述配置对象包含所述随机约束,用于声明所述配置对象的成员变量和所述随机约束的基类的数据类型;

基于配置对象的基类创建配置对象,并声明例化封装类和随机约束的类队列,调用随机约束的接口方法将需要的封装类加入随机约束的类队列,最终实现配置对象的随机约束求解。

2.如权利要求1所述芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,其特征在于,将所述配置对象的数据成员作为参数传递到所述随机约束的基类中时,采用set_item函数使所述随机约束的基类中的成员变量与所述配置对象的成员变量的值保持同步。

3.如权利要求1所述芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,其特征在于,创建所述随机约束的类队列时,在所述随机约束的基类中声明所述随机约束的类队列的数据类型。

4.如权利要求1所述芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,其特征在于,创建所述配置对象的基类时,创建递归同步指令,用于对所述随机约束的类队列中的成员变量进行递归同步。

5.如权利要求4所述芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,其特征在于,调用需要的所述封装类加入所述随机约束的类队列后,同步所述随机约束的类队列和所述配置对象的基类的类队列,以使所述递归同步指令顺利执行。

6.一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的存储介质,其特征在于,所述程序代码使所述处理器运行所述权利要求1~5任一项所述芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法。

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