[发明专利]显示面板的对位检测方法及系统、显示面板在审
| 申请号： | 202210080154.0 | 申请日： | 2022-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN116525476A | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 吴跃波;吕冲;盛翠翠;董小彪;葛泳 | 申请（专利权）人： | 成都辰显光电有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L33/00;H01L27/15;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 臧静 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了显示面板的对位检测方法及系统、显示面板，显示面板包括背板和位于背板一侧的多个对位图案和多个发光元件，多个对位图案与多个发光元件一一对应，方法包括：沿垂直于显示面板出光面的第一方向，获取发光元件和对位图案的检测图像；根据检测图像中的发光元件与对应的对位图案之间的相对位置关系，确定发光元件的对位结果。相较于相关技术，本申请实施例能够降低显示面板的对位检测的难度，提高显示面板的对位检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 对位 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
