[发明专利]显示面板的对位检测方法及系统、显示面板

说明书

本申请实施例提供了显示面板的对位检测方法及系统、显示面板，显示面板包括背板和位于背板一侧的多个对位图案和多个发光元件，多个对位图案与多个发光元件一一对应，方法包括：沿垂直于显示面板出光面的第一方向，获取发光元件和对位图案的检测图像；根据检测图像中的发光元件与对应的对位图案之间的相对位置关系，确定发光元件的对位结果。相较于相关技术，本申请实施例能够降低显示面板的对位检测的难度，提高显示面板的对位检测的准确率。

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的对位检测方法及系统、显示面板。

背景技术

随着显示技术的发展，次毫米发光二极管(Mini LED)显示面板和微型发光二极管(Micro LED)显示面板的应用越来越广泛。Micro LED和Mini LED因其需要通过巨量转移技术转移到背板上，所以为了保证显示质量，对于Micro LED和Mini LED的对位检测尤为重要。

然而，经本申请的发明人发现，目前的显示面板的对位检测方法存在检测难度较大，容易出现漏检和误检的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板的对位检测方法及系统、显示面板，能够降低显示面板的对位检测的难度，提高显示面板的对位检测的准确率。

第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板的对位检测方法，显示面板包括背板和位于背板一侧的多个对位图案和多个发光元件，多个对位图案与多个发光元件一一对应，方法包括：沿垂直于显示面板出光面的第一方向，获取发光元件和对位图案的检测图像；根据检测图像中的发光元件与对应的对位图案之间的相对位置关系，确定发光元件的对位结果。

根据本申请第一方面的实施方式，每个对位图案位于对应的发光元件的键合区域，且对位图案的尺寸大于或等于发光元件的尺寸；根据检测图像中的发光元件与对应的对位图案之间的相对位置关系，确定发光元件的对位结果，具体包括：当对位图案中无发光元件，或者对位图案的边界被发光元件遮挡时，确定对位图案对应的发光元件存在对位偏差。

如此一来，本申请实施例仅通过判断对位图案中有无发光元件，或者对位图案的边界是否被发光元件遮挡，便可以准确的确定发光元件是否存在对位偏差，使得对位检测过程更加简化，大幅降低显示面板的对位检测难度，避免发光元件的漏检和误检。

根据本申请第一方面前述任一实施方式，在当对位图案中无发光元件，或者对位图案的边界被发光元件遮挡时，确定对位图案对应的发光元件存在对位偏差之前，还包括：当对位图案中存在物体，且对位图案未被物体遮挡时，获取物体的实测面积和/或实测形状，并判断实测面积是否处于预设面积范围和/或实测形状是否为目标形状；在对位图案中不存在物体的情况下，或者在对位图案中存在物体，且实测面积未处于预设面积范围和/或实测形状不为目标形状的情况下，确定对位图案中无发光元件。

如此一来，当对位图案中存在物体时，通过对于物体的面积和/或形状的判断，能够排除除发光元件之外的异物对于对位检测结果的干扰，进一步提高对位检测结果的准确率。

根据本申请第一方面前述任一实施方式，对位图案的至少一侧设置有距离刻度线和/或角度刻度线。

如此一来，通过在对位图案的至少一侧设置有距离刻度线和/或角度刻度线，可以便于检测人员在通过显微镜对发光元件的对位情况进行复检时，精确地获知发光元件的偏移量和/或发光元件的旋转角度。

根据本申请第一方面前述任一实施方式，在当对位图案中无发光元件，或者对位图案的边界被发光元件遮挡时，确定对位图案对应的发光元件存在对位偏差之前，还包括：当对位图案的边界被物体遮挡时，获取物体的实测面积和/或实测形状，并判断实测面积是否处于预设面积范围和/或实测形状是否为目标形状；当实测面积未处于预设面积范围和/或实测形状不为目标形状时，确定对位图案未被发光元件遮挡；当实测面积处于预设面积范围和/或实测形状为目标形状时，确定对位图案被发光元件遮挡。