[发明专利]一种集成电路离子注入掺杂工艺在审
| 申请号： | 202210075181.9 | 申请日： | 2022-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN114613670A | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 郭芳 | 申请（专利权）人： | 郭芳 |
| 主分类号： | H01L21/265 | 分类号： | H01L21/265;H01J37/30;H01J37/317;B08B5/02;B08B15/04;B08B17/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国(四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路离子注入掺杂工艺，涉及电路离子注入技术领域。该集成电路离子注入掺杂工艺，包括以下步骤：S1，确定离子的电荷数和荷质比，然后通过控制箱将掺杂气体通入离子源进行电离；S2，由离子源系统产生无金属杂质的离子束；S3，根据单个注入离子的电荷数和注入离子剂量，在剂量控制系统中设定设备所参考的离子注入总剂量；S4，由引出系统通过引出缝将纯的无金属杂质的带状离子束引入靶室；S5，离子束向靶片注入无金属杂质的多种离子。该集成电路离子注入掺杂工艺，通过设置防护架，在灰尘下落时可以通过防护架进行阻隔，避免灰尘落在控制箱上方，再通过设置连接板，对侧边的灰尘进行简单的防护，避免散热隔网被堵塞。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 离子 注入 掺杂 工艺 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郭芳，未经郭芳许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210075181.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种锅炉烟气余热回收系统
- 下一篇：一种微小多通道流体相变式均温换热板
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
