[发明专利]一种纳米银电容屏维修方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210063280.5 申请日: 2022-01-20
公开(公告)号: CN114428569A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 郭珺;曾西平;黄康志;蒲燕;赵振 申请(专利权)人: 深圳市华科创智技术有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044;G06F11/07;G01R27/26;G01R31/52
代理公司: 深圳国海智峰知识产权代理事务所(普通合伙) 44489 代理人: 刘军锋
地址: 518116 广东省深圳市龙岗区宝龙街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种纳米银电容屏维修方法及装置,该方法包括:若检测到电容屏纳米银膜层中存在故障电容节点和/或短路纳米银通道,通过静电枪在与该故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第一预设距离处向该故障电容节点释放第一预设电压值的电压;若未能使故障消除,则按照先缩短静电枪与故障电容节点和/或短路纳米银通道之间的距离,再按根据设梯度值逐次升高静电枪释放的电压值的方式不断调整静电枪的距离和释放电压值,直至故障电容节点和/或短路纳米银通道消除为止。能够通过使静电枪与纳米银膜层之间相隔一定距离,并逐次升高释放的电压值,在防止静电枪损伤纳米银导电通道的前提下,击穿故障电容节点和/或短路纳米银通道,完成维修。
搜索关键词: 一种 纳米 电容 维修 方法 装置
【主权项】:
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