[发明专利]一种纳米银电容屏维修方法及装置

说明书

本发明涉及一种纳米银电容屏维修方法及装置，该方法包括：若检测到电容屏纳米银膜层中存在故障电容节点和/或短路纳米银通道，通过静电枪在与该故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第一预设距离处向该故障电容节点释放第一预设电压值的电压；若未能使故障消除，则按照先缩短静电枪与故障电容节点和/或短路纳米银通道之间的距离，再按根据设梯度值逐次升高静电枪释放的电压值的方式不断调整静电枪的距离和释放电压值，直至故障电容节点和/或短路纳米银通道消除为止。能够通过使静电枪与纳米银膜层之间相隔一定距离，并逐次升高释放的电压值，在防止静电枪损伤纳米银导电通道的前提下，击穿故障电容节点和/或短路纳米银通道，完成维修。

技术领域

本发明涉及电容屏维修技术领域，具体地，涉及一种纳米银电容屏维修方法及装置。

背景技术

目前，随着科技的不断发展，触摸屏作为一种简单、便捷的人机交互方式，已经广泛应用于我们日常生活的各个领域，同时随着人们要求的不断提高，触摸屏正向着大尺寸、高解析度、轻、薄、可弯曲、低成本等方向发展。纳米银膜层由于其方阻低的特性，被广泛使用在大尺寸的电容屏中。但是，大尺寸的纳米银电容屏尺寸较大，生产效率低下，良率也无法和小尺寸的电容屏相比。同时单片电容屏成本较高，在电容屏贴合后出现的短路或节点电容数值不良等问题普遍存在，且无较好的解决办法。现有技术中，采用将出现故障的纳米银导电通道屏蔽的方式解决短路或节点电容数值不良的问题，但是，采用这种方法可能会导致电容屏上部分区域无触的现象。另外，现有技术中还有一种通过释放高电压击穿短路或电容数值不良节点区域的方式，但是此种方法不仅不易掌握击穿短路或电容数值不良节点区域时释放的电压值的大小，还极易造成纳米银导电通道被损伤的现象。因此，本领域技术人员亟需寻找一种新的技术方案来解决上述问题。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本发明公开提供一种纳米银电容屏维修方法及装置。

本发明公开的第一方面，提供一种纳米银电容屏维修方法，所述方法包括：

根据预设的故障判断策略确定待检测电容屏纳米银膜层中是否存在故障电容节点和/或短路纳米银通道；

若存在故障电容节点和/或短路纳米银通道，通过静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第一预设距离处向所述故障电容节点释放第一预设电压值的电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点释放电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道仍然存在，通过所述静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第二预设距离处向所述故障电容节点释放第一预设电压值的电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放预设电压值；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道仍然存在，通过所述静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第二预设距离处，按照预设梯度值逐次升高向所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放的电压值，直至所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放电压。

可选的，所述第一预设距离为0.5mm-1mm，所述第二预设距离为0mm；

所述第一预设电压值为2kv，所述预设梯度值为0.5kv。

可选的，所述根据预设的故障判断策略确定所述待检测电容屏纳米银膜层中是否存在故障电容节点和/或短路纳米银通道，包括：

确定所述待检测电容屏纳米银膜层中每个节点所在纳米银通道的电阻值；

若纳米银通道的电阻值低于预设电阻值，则确定所述纳米银通道为短路纳米银通道；

确定所述待检测电容屏纳米银膜层中每个节点的电容差值；