[发明专利]一种纳米银电容屏维修方法及装置

权利要求书

1.一种纳米银电容屏维修方法，其特征在于，所述方法包括：

根据预设的故障判断策略确定待检测电容屏纳米银膜层中是否存在故障电容节点和/或短路纳米银通道；

若存在故障电容节点和/或短路纳米银通道，通过静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第一预设距离处向所述故障电容节点释放第一预设电压值的电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点释放电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道仍然存在，通过所述静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第二预设距离处向所述故障电容节点释放第一预设电压值的电压；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放预设电压值；

若检测到所述故障电容节点和/或短路纳米银通道仍然存在，通过所述静电枪在与所述故障电容节点和/或短路纳米银通道相隔第二预设距离处，按照预设梯度值逐次升高向所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放的电压值，直至所述故障电容节点和/或短路纳米银通道被消除，停止对所述故障电容节点和/或短路纳米银通道释放电压。

2.根据权利要求1所述的纳米银电容屏维修方法，其特征在于，所述第一预设距离为0.5mm-1mm，所述第二预设距离为0mm；

所述第一预设电压值为2kv，所述预设梯度值为0.5kv。

3.根据权利要求1所述的纳米银电容屏维修方法，其特征在于，所述根据预设的故障判断策略确定所述待检测电容屏纳米银膜层中是否存在故障电容节点和/或短路纳米银通道，包括：

确定所述待检测电容屏纳米银膜层中每个节点所在纳米银通道的电阻值；

若纳米银通道的电阻值低于预设电阻值，则确定所述纳米银通道为短路纳米银通道；

确定所述待检测电容屏纳米银膜层中每个节点的电容差值；

若节点的电容差值高于预设差值，则确定所述节点为故障电容节点。

4.根据权利要求3所述的纳米银电容屏维修方法，其特征在于，所述预设电阻值为0.39MΩ，所述预设差值为40-60。

5.根据权利要求3所述的纳米银电容屏维修方法，其特征在于，所述确定所述待检测电容屏纳米银膜层中每个节点的电容差值，包括：

将每个待检测的节点作为目标电容节点，将位于所述目标电容节点右侧的节点作为第一电容节点，将位于所述目标电容节点下侧的节点作为第二电容节点，将位于所述第一电容节点下侧的节点作为第三电容节点；

分别确定所述目标电容节点、第一电容节点、第二电容节点和第三电容节点的电容值；

通过预设的电容差值计算公式确定所述目标电容节点的的电容差值，所述电容差值计算公式为：

F＝丨(A-B)-(C-D)丨，

其中，A为目标电容节点的电容值，B为第二电容节点的电容值，C为第一电容节点的电容值，D为第三电容节点的电容值，F为目标电容节点的电容差值。