[发明专利]元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质在审
| 申请号： | 202210044628.6 | 申请日： | 2022-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114840729A | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 宋俊纬;王红云 | 申请（专利权）人： | 百芯智能制造科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/906 | 分类号： | G06F16/906;G06F40/30 |
| 代理公司： | 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 | 代理人： | 李浩 |
| 地址： | 518128 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质，解决了现有技术中无相关的电子元件分类测试数据以作为对识别出物料清单中元器件类型数据的参考数据的技术问题。通过获取电子元件的基础测试数据，再次获取与基础数据对应的电子元件基础测试数据；通过基础测试数据以及预设分类模型，得到电子元件的分类测试数据；该电子元件的分类测试数据能够作为测试标准数据，用以对检查的元器件类型进行校验，进而判断检查后的物料清单中的元器件类型是否正确。当电子元件的分类测试数据包括检查后的物料清单中元器件类型数据，则检查后的物料清单中的元器件类型正确。 | ||
| 搜索关键词： | 元器件 分类 测试数据 生成 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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