[发明专利]元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质

说明书

本申请提供了一种元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质，解决了现有技术中无相关的电子元件分类测试数据以作为对识别出物料清单中元器件类型数据的参考数据的技术问题。通过获取电子元件的基础测试数据，再次获取与基础数据对应的电子元件基础测试数据；通过基础测试数据以及预设分类模型，得到电子元件的分类测试数据；该电子元件的分类测试数据能够作为测试标准数据，用以对检查的元器件类型进行校验，进而判断检查后的物料清单中的元器件类型是否正确。当电子元件的分类测试数据包括检查后的物料清单中元器件类型数据，则检查后的物料清单中的元器件类型正确。

技术领域

本申请涉及数据处理技术领域，具体涉及元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质。

背景技术

一个电子设备通常由很多不同种类的电子元件组装而成，其中表示一个电子元件的数据包括有编号、名称、规格等相关属性等信息，例如电子元件数据包括有型号、规格参数、位号、分类名、供应商编码等信息；因此，现代社会中，电子行业的企业经常采用物料清单表沟通电子元件的编号、名称、规格等相关属性信息。

现有技术中，物料清单中信息比较复杂，经常会出现无用或者干扰的信息，所以，通常用户在使用物料清单之前是有必要对物料清单元器件类型进行检查；在进行检查时，需要有对应的测试标准和测试数据，对检查的元器件类型进行校验，判断检查的元器件类型是否正确；而当前没有相关的电子元件分类测试数据作为测试标准数据，用以对检查的元器件类型进行校验。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了元器件分类测试数据生成方法及系统、设备、存储介质，解决了现有技术中无相关的电子元件分类测试数据作为测试标准数据，用以对检查的元器件类型进行校验的技术问题。

根据本申请的一个方面，一种元器件分类测试数据生成方法，包括：获取电子元件的基础数据；根据所述基础数据获取与所述基础数据对应的电子元件的基础测试数据；根据所述基础测试数据以及预设分类模型，生成所述电子元件的分类测试数据。

在一种可能的实现方式中，根据所述基础数据获取与所述基础数据对应的电子元件的基础测试数据包括：根据所述基础数据及预设电子元件特征规则，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息，所述多个属性信息作为所述电子元件的基础测试数据；其中，所述根据所述基础测试数据以及预设分类模型，生成所述电子元件的分类测试数据包括：根据所述多个属性信息及所述预设分类模型，将所述多个属性信息进行组合，生成所述电子元件的分类测试数据。

在一种可能的实现方式中，预设电子元件特征规则包括：语义规则特征；其中，根据所述基础数据及预设电子元件特征规则，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息包括：对所述基础数据依据所述语义规则特征进行语义分析，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息。

在一种可能的实现方式中，预设电子元件特征规则包括：参数特征，其中，根据所述基础数据及预设电子元件特征规则，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息包括：将所述基础数据依据所述参数特征，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息；其中，所述参数特征包括：电子元件的符号特征或者符合组合特征。

在一种可能的实现方式中，预设电子元件特征规则包括：关键词特征，其中，根据所述基础数据及预设电子元件特征规则，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息包括：将所述基础数据依据所述关键词特征，将所述基础数据进行组合，以得到所述电子元件的多个属性信息；其中，所述关键词特征包括：电子元件的单词特征或者字符特征。

在一种可能的实现方式中，在获取电子元件的基础数据之前，还包括：将自然数据根据预设同一类型数据规则，生成所述电子元件的基础数据。

在一种可能的实现方式中，根据所述基础测试数据分类模型数据以及预设分类模型，生成所述电子元件相关的分类测试数据之后，还包括：记录以及保存所述电子元件相关的分类测试数据。