[发明专利]用于测试电子器件的大型探针头及相关制造方法在审
| 申请号： | 202180079862.6 | 申请日： | 2021-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN116507925A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 弗拉维奥·马焦尼 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 江亚男;方挺 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种用于被测器件(DUT)功能测试的探针头(50)的制造方法。该方法包括以下步骤：提供包容元件(55)，在包容元件(55)的下端面(Fa')处布置下导引件(60)，所述下端面(Fa')在测试期间面向被测器件(DUT)，以及在包容元件(55)的上端面(Fb')处布置上导引件(70)，所述上端面(Fb')与下端面(Fa')相对，其中包容元件(55)夹在下导引件(60)和上导引件(70)之间，并且其中所述导引件(60，70)最初为连接到包容元件(55)的至少一个单板的形状。适当地，该方法还包括以下步骤：切割下导引件(60)或上导引件(70)中的至少一个，从而限定出相互独立且彼此分离的多个导引件部分(60p，70p)，以及将多个接触元件(51)插入形成于所述导引件(60，70)中的相应导引孔(60h，70h)中，所述接触元件(51)适于接触被测器件(DUT)的垫(P)。本申请还公开了通过所述方法获得的探针头(50)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电子器件 大型 探针 相关 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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