[发明专利]使用存储器内建自测试的参考位测试和修复在审
| 申请号： | 202180025137.0 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN115349149A | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 尹钟信;B·纳多-多西;H·柯达里 | 申请（专利权）人： | 西门子工业软件有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/00;G11C29/18;G11C29/24;G11C29/44;G11C29/04;G11C29/12;G11C29/40 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 景怀宇 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种被配置来执行存储器中的参考位的测试的存储器测试电路。在读取操作中，将数据位列的输出与一个或多个参考位列进行比较。存储器测试电路包括：测试控制器；以及关联调整电路，所述关联调整电路由测试控制器可配置以在读取操作中将另一个或多个参考位列或一个或多个数据位列与数据位列相关联。测试控制器可基于来自两个不同关联的结果来确定原始的一个或多个参考位列是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 存储器 测试 参考 修复 | ||
【主权项】：
暂无信息
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