[发明专利]光学测定装置和光学测定方法在审
| 申请号： | 202180022995.X | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN115335699A | 公开（公告）日： | 2022-11-11 |
| 发明（设计）人： | 森田元喜;河野景吾;须须木大地;近藤房宣 | 申请（专利权）人： | 积水医疗株式会社;浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/483 | 分类号： | G01N33/483;G01N33/543;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光学测定装置(1)包括：测定部，其对侧流试验片(K)的检测部(16)照射测定光，并测定通过测定光的照射而从检测部(16)得到的光；和判断部(4)，其基于由测定部得到的测定值和预先设定的第一阈值的比较，判断保持于侧流试验片(K)的样本是阴性还是阳性，判断部(4)在样本向侧流试验片(K)的保持后，在测定值超过第一阈值的情况下计算测定初期的测定值与测定后期的测定值之间的差分值，在差分值超过预先设定的第二阈值的情况下判断为样本是阳性，在差分值为第二阈值以下的情况下判断为样本是阴性。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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