[发明专利]光学测定装置和光学测定方法

说明书

光学测定装置(1)包括：测定部，其对侧流试验片(K)的检测部(16)照射测定光，并测定通过测定光的照射而从检测部(16)得到的光；和判断部(4)，其基于由测定部得到的测定值和预先设定的第一阈值的比较，判断保持于侧流试验片(K)的样本是阴性还是阳性，判断部(4)在样本向侧流试验片(K)的保持后，在测定值超过第一阈值的情况下计算测定初期的测定值与测定后期的测定值之间的差分值，在差分值超过预先设定的第二阈值的情况下判断为样本是阳性，在差分值为第二阈值以下的情况下判断为样本是阴性。

技术领域

本发明涉及光学测定装置和光学测定方法。

背景技术

作为检测样本中的测定对象物质的方法，有侧流(lateral flow)式膜分析(membrane assay)。侧流式膜分析是使用包括以可溶出的方式保持了与测定对象物质结合的标记物质的标记物质保持部和固定了与测定对象物质结合的物质的检测部的试验片(侧流试验片)来检测样本中的测定对象物质的方法。作为侧流式膜分析的例子，可列举免疫层析法、核酸色谱法。样本中的测定对象物质与标记物质结合而形成复合体，当该复合体扩散至检测部时，复合体被固定为带状的结合物质捕获，在检测线上产生来自标记物质的信号。因此，通过利用光学测定装置光学地测定侧流试验片的检测线上的信号，能够定性或定量地分析样本中的测定对象物质。

作为侧流式膜分析中使用的光学测定装置，例如有专利文献1、2中记载的光学测定装置。这些现有的光学测定装置构成为包括：装填多个侧流试验片的装填部；读取装填在装填部的侧流试验片的显色状态的读取部；和基于读取部所读取的侧流试验片的显色状态进行检查处理的控制部。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-133813号公报

专利文献2：国际公开WO2010/58472号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

但是，在使用上述那样的光学测定装置的检查中，异物向侧流试验片的附着会成为问题。作为这样的异物，可设想例如侧流试验片的构成材料的粉体等。在通过目视确认检测线的显色状态的情况下，异物对判定带来影响的情况非常罕见。另一方面，在使用附着了异物的侧流试验片来光学地读取检测线的显色状态的情况下，可认为因异物附着而导致测定值超出阈值，本来阴性的样本会被判断为阳性。

本发明是为了解决上述问题而完成的发明，其目的在于，提供一种即使在侧流试验片附着了异物的情况下，也能够保证关于样本的判断的精度的光学测定装置和光学测定方法。

解决问题的技术手段

本发明的一个方面的光学测定装置，包括：测定部，其对侧流试验片的检测部照射测定光，并遍及规定的期间测定通过测定光的照射而从检测部得到的光；和判断部，其基于由测定部得到的测定值和预先设定的第一阈值的比较，判断保持于侧流试验片的样本是阴性还是阳性，判断部在样本向侧流试验片的保持后，在测定值超过第一阈值的情况下计算测定初期的测定值与测定后期的测定值之间的差分值，在差分值超过预先设定的第二阈值的情况下判断为样本是阳性，在差分值为第二阈值以下的情况下判断为样本是阴性。