[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 202180007987.8 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN114902389A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 伊藤太一 申请(专利权)人: 富士电机株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L25/07;H01L25/18;H01L21/607;H05K1/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 周爽;金玉兰
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种防止引线框架的脚部的接合部位的错位的半导体装置。半导体装置还具备垂直部(64a)、以及分支部(64b、64c)。垂直部(64a)相对于电路图案(42)沿垂直方向延伸。分支部(64b)从垂直部(64a)的靠电路图案(42)侧的下端部的分叉部(64a1)向预定方向弯曲并相对于电路图案(42)而平行地延伸,从而与电路图案(42)接合。分支部(64c)从分叉部(64a1)向预定方向的相反方向弯曲并相对于电路图案(42)而平行地延伸,从而与电路图案(42)接合。在这样的脚部(64)中,垂直部(64a)的正面侧、背面侧分别被分支部(64b、64c)可靠地支承。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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