[实用新型]一种集成电路探针测试架

摘要

本实用新型公开了一种集成电路探针测试架，包括底板，所述底板上固定安装有测试架，所述测试架的下方设有活动安装在底板上的底座，所述底座的顶部转动安装有拖台盘，所述底座与测试架之间设有X轴移动机构和Y轴移动机构，所述测试架的顶部中心设有测试通孔，所述测试通孔的外部同轴安装有环形的轨道，所述轨道上滑动安装有至少一个可伸入测试通孔的探针组件。本实用新型通过设置X轴移动机构和Y轴移动机构，从而带动底座沿前后、左右移动，进而带动托盘台移动，托盘台转动安装在底座上，从而实现360°旋转，提高测试电路的放置位置的灵活性；通过在测试架上设置轨道，便于移动探针组件的位置，满足不同类型的芯片及PCB板性能测试的需求。